菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHER XDAL237核心功能特點(diǎn)
超精密測(cè)量能力：可精準(zhǔn)檢測(cè)≤0.05μm 的超薄涂層，適合 PCB 上僅數(shù)納米的 Au 和 Pd 鍍層測(cè)量
全自動(dòng)測(cè)量流程：可編程 XY 平臺(tái) + 電動(dòng) Z 軸，支持多點(diǎn)測(cè)量、批量測(cè)量和掃描檢查
智能適配系統(tǒng)：自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾片，為不同測(cè)量程式創(chuàng)造激勵(lì)條件
多功能分析：兼具鍍層厚度測(cè)量、材料分析和痕量分析功能
靈活樣品適配：C 型槽設(shè)計(jì)，可測(cè)量大平面樣品 (如 PCB)，容納 140mm 高度樣品
軟件支持：WinFTM® 專業(yè)軟件，實(shí)時(shí)傳輸、評(píng)估和導(dǎo)出測(cè)量數(shù)據(jù)
特殊應(yīng)用：可選配 SDD 探測(cè)器滿足 ENIG/ENEPIG 要求，分析 NiP 層中磷含量
典型應(yīng)用領(lǐng)域
電子行業(yè)：PCB 上納米級(jí) Au/Pd 鍍層測(cè)量、引線框架、接插件和觸點(diǎn)功能涂層分析
黃金珠寶手表行業(yè)：貴金屬含量分析、鍍層厚度檢測(cè)
材料與制造：硬質(zhì)鍍層材料分析、高速鋼刀具 TiN 涂層測(cè)量、硬質(zhì)合金分析
質(zhì)量控制：來(lái)料檢驗(yàn)、生產(chǎn)監(jiān)控、復(fù)雜多層涂層系統(tǒng)分析
合規(guī)檢測(cè)：焊料中鉛含量測(cè)定 (同時(shí)滿足高可靠性> 3% 和 RoHS<1000ppm 要求)
研發(fā)項(xiàng)目：超薄涂層研究、痕量元素分析、新材料開發(fā)
首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 德國(guó)菲希爾FISCHER > 菲希爾測(cè)厚儀 > FISCHER 測(cè)厚儀 X射線 XDAL237
德國(guó)菲希爾FISCHER
菲希爾測(cè)厚儀
點(diǎn)擊放大