英國雷尼紹測頭探針 Renishaw代理

40多年來，雷尼紹在工業(yè)測量領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)了許多具有里程碑意義的創(chuàng)新，從*的觸發(fā)式測頭和機動重復(fù)定位測座，到可重復(fù)的測針交換和模塊掃描系統(tǒng)，雷尼紹用于坐標測量機 (CMM) 的創(chuàng)新型傳感器均符合行業(yè)標準。

雷尼紹提供各種類型的測頭系統(tǒng)，以更好地滿足具體的應(yīng)用需求。上海篤摯儀器專業(yè)代理雷尼紹各種探頭測針及光柵傳感器等，原裝真品，現(xiàn)貨供應(yīng)，歡迎選購！

觸發(fā)式測頭

雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價比的系統(tǒng)，既可在手動坐標測量機上進行簡單的性能檢測，也可在數(shù)控高速機器上進行復(fù)雜輪廓測量。

觸發(fā)式測頭測量離散的點，是檢測三維幾何工件的理想選擇。

雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價比的系統(tǒng)，既可在手動坐標測量機上進行簡單的性能檢測，也可在數(shù)控高速機器上進行復(fù)雜輪廓測量。

測針模塊交換

TP20和TP200測頭具有測針模塊交換功能，可提高生產(chǎn)率，并為您提供理想的測量應(yīng)用系統(tǒng)。

• 減少循環(huán)時間 — 模塊交換時間約為6秒，相比之下手動交換需要1分鐘（還有重新標定時間）
• XY平面碰撞保護裝置 — 測針模塊在發(fā)生碰撞時會分離
• 模塊可以安全地存放在交換架上

掃描測頭

掃描測頭每秒能夠采集幾百個表面點，可以測量輪廓、尺寸和位置。

掃描測頭也可用于采集離散點，與觸發(fā)式測頭類似。

雷尼紹提供了一系列解決方案，供各種尺寸和配置的坐標測量機選用。

掃描原理

掃描測量提供了一種從規(guī)則型面工件或其他復(fù)雜工件上高速采集形狀和輪廓數(shù)據(jù)的方法。

觸發(fā)式測頭可采集表面離散點，而掃描系統(tǒng)則可獲取大量的表面數(shù)據(jù)，提供更詳細的工件形狀信息。因此，在實際應(yīng)用中如果工件形狀是整個誤差預(yù)算的重要考量因素或必須對復(fù)雜表面進行檢測，掃描測量可謂理想之選。

掃描需要根本不同的傳感器設(shè)計、機器控制和數(shù)據(jù)分析方法。

雷尼紹掃描測頭*特色的輕巧無電源機構(gòu)（無馬達或鎖定機構(gòu)），具有高固有頻率，適合高速掃描測量。分離的光學(xué)測量系統(tǒng)直接（無需通過測頭機構(gòu)中的疊加軸）測量測針的偏移量，以獲得更高的精度和更快的動態(tài)響應(yīng)。