- 1
- 2
德國菲希爾FISCHER
英國泰勒霍普森 Taylor Hobson
美國API
杭州思看
美國哈希代理
意大利哈納代理
德國馬爾Mahr
德國艾達米克-霍梅爾Hommel
日本三豐 Mitutoyo
日本KETT
日本柯尼卡美能達KONICA MINOLTA
德國Qnix尼克斯
德國森薩帕特Sensopart
德國BYK
德國EPK
美國狄夫斯高 Defelsko
美國Fluke 福祿克
美國Mark-10測力計
美國SDI
美國FLIR 前視紅外熱像系統
美國Fluke福祿克
美國GE無損檢測
上海尚材 SCTMC
香港嘉儀CanNeed
宇舟 金相機械設備
北京時代 TIME
英國易高Elcometer
英國Renishaw雷尼紹
瑞士博勢 Proceq
表面處理層無損檢測系統
| 德國菲希爾X射線熒光測厚儀信息 |
| 點擊次數：301 更新時間：2025-09-09 |
技術原理 能量色散 X 射線熒光技術（EDXRF） XDL 系列測厚儀利用 X 射線激發樣品，使樣品中的元素發射出特征 X 射線熒光。不同元素的特征 X 射線熒光具有特定的能量，通過探測器檢測這些熒光的能量和強度，并進行能譜分析，即可確定樣品中所含元素的種類和含量。對于鍍層厚度的測量，儀器根據特征 X 射線熒光強度與鍍層厚度的關系，經過精確的算法計算得出鍍層厚度。 基本參數法 該系列儀器采用菲希爾基本參數法，這一先進技術使得儀器在沒有標準片的情況下，也能對鍍層系統、固體和液體樣品進行準確的測量和分析。它基于物質對 X 射線的吸收和熒光產生的基本物理原理，通過輸入樣品的基本參數（如元素組成、密度等），利用復雜的算法計算出測量結果，大大提高了檢測的靈活性，降低了對標準樣品的依賴，同時也減少了因標準樣品不準確或缺失帶來的測量誤差。 |
17321369640
菲希爾測厚儀
首 頁