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菲希爾X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動方式，測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。德國菲希爾X射線膜厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230//240

菲希爾X射線鍍層測厚儀簡介：

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE? X-RAY XDL 210/220/230/240是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE? X-RAY XDL210/220/230/240特別適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE? X-RAY XDL 210/220/230/240典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻

測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

測量印刷線路板

分析電鍍?nèi)芤?/p>

XDL230有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。