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測(cè)量鋼或鐵基材（NC/Fe 或 NF/Fe）上的非金屬和有色金屬涂層。所有單尖探頭中測(cè)量范圍廣。由于未屏蔽磁場(chǎng)，幾何影響大，但傾斜效應(yīng)小。探頭默認(rèn)采用溫度穩(wěn)定設(shè)計(jì)，適用于樣品溫度高達(dá) 80°C 的交替測(cè)量。 在加熱樣品上的停留時(shí)間：最長(zhǎng) 1 秒，在空氣中的停留時(shí)間：最短 5 秒。精度和測(cè)量誤差值適用于鋼或鐵上的非導(dǎo)電涂層材料 （NC/Fe）。對(duì)于有色金屬涂層材料 （NF） 的測(cè)量，這些值可能有所不同。探頭的測(cè)量直徑需小于被測(cè)區(qū)域尺寸。例如，測(cè)量細(xì)小零件（如電子元件引腳鍍層）需選微型探頭（直徑 1-2mm），否則會(huì)受周圍基體干擾，菲希爾測(cè)厚儀的主機(jī)與探頭通常為專用匹配設(shè)計(jì)，不同系列主機(jī)支持的探頭型號(hào)不同