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x 射線熒光鍍層測厚儀德國菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237，也稱為 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用手動或自動方式，可對微小結(jié)構(gòu)的印刷線路板、電氣元件及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層進行測量和分析。

菲希爾X射線測厚儀FISCHER X-RAY XDLM237典型應(yīng)用領(lǐng)域

測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零部件

測量微小區(qū)域上的薄鍍層

測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層

全自動測量，如測量印刷線路板

設(shè)計理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237 設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列，具備以下特性：

工作臺與升降系統(tǒng)：配備馬達驅(qū)動的 X/Y 工作臺，保護門開啟時，工作臺自動移至樣品放置位置；擁有馬達驅(qū)動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。

定位輔助：高分辨率的彩色視頻攝像頭便于定位測量位置，配備的激光點可輔助定位并快速對準測量位置。

樣品適應(yīng)性：測量箱底部的開槽專為面積大且形狀扁平的樣品設(shè)計，能測量比測量箱更長、更寬的樣品，例如大型的印制電路板。

樣品擺放與測量調(diào)整：帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡，簡化樣品擺放，同時允許測量點的調(diào)整。